キーワード解説：

　走査型プローブ顕微鏡（SPM）の基本モードのひとつであり、試料の表面と探針の原子間に働く力を検出して画像を得る顕微鏡である。導電性コーティングなどの前処理が不要で、観察する試料室を真空にする必要もないため、大気中や液体中、または高温～低温などさまざまな環境で測定を行うことができる。AFM像は、微細な探針（プローブ）を用いて試料表面を走査（スキャン）し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測して、この測定結果を画像化したものである。