走査型プローブ顕微鏡

【読み】

そうさがたぷろーぶけんびきょう

【英語】

Scanning Probe Microscope　（SPM）

【書籍】

エナメル質・象牙質・補綴物のプロフェッショナルケア

【ページ】

15

キーワード解説

走査型プローブ顕微鏡は、鋭く尖った探針（プローブ）を測定試料の表面にナノメートルレベルで近接させ、プローブと試料表面のあいだに働く物理量を検出することによって、試料の表面性状や物理量分布を測定する装置の総称。ＳＰＭともよばれる。表面性状の観察、表面粗さの測定が可能で、ナノレベルの変化が観察でき、同一部位をステップを追って観察できる。