キーワード解説：

走査型電子顕微鏡は、試料の表面構造を観察するときに用いられる電子顕微鏡のこと。SEMともよばれる。試料を薄片化する必要がなく、電子銃から電子ビームを試料表面上で走査させて発生した二次電子を検出して画像化することが特徴である。歯科領域では、数千倍から数万倍の像が観察できるため、細菌や歯質の構造を観察することができる。ただし、同一部位をステップを追って観察することはできない。